冷场发射扫描电镜（Cold Field Emission SEM，CFE-SEM）采用尖端曲率半径极小的冷场发射电子源，其分辨率可达纳米级，常用于观察样品的表面形貌。能谱探测器（Energy Dispersive Spectrometer, EDS）是一种用于元素分析的电子显微学附件。
CFE-SEM 与 EDS 联动是一种强大的显微分析技术，结合了 CFE-SEM 的高分辨成像和 EDS 的元素分析能力。可短时效、高精度地实现元素的定性定量分析。包含EDS分布图、谱图和线扫描数据采集，并自动生成处理后的数据，减少后期工作，提高实验效率。广泛应用于生命科学、医学、药学以及材料科学等领域的前沿研究。
生物医学测试中心细胞生物学平台于2025年4月16日举办 CFE-SEM 与 EDS 技术研讨会，内容包含应用讲解和上机实操，用户可自带 1-2 个样品，欢迎广大同学报名参加！
会议时间：2025年4月16日（周三）9:30-17:00
日程安排：
讲座地点：清华大学医学科学楼B321
上机地点：清华大学医学科学楼C117
联系方式：赵老师 、李老师 010-62799346
zhaochenguang#mail.tsinghua.edu.cn
lq6975#tsinghua.edu.cn（发送邮件时请将“#”改为“@”）
报名方式：访问链接：http://sapphireking.mikecrm.com/l2repjE
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备注：报名截止时间培训开始前一天中午12:00；参会者可携带样品进行上机测试，如有需要请提前联系老师。
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